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 | | 期刊全称 | IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY | | 期刊简称 | IEEE T DEVICE MAT RE | | 影响因子2015 | 1.89, 2015年6月21日更新, 影响因子官网 | | Pindex | 0.678 (一般偏难), Pindex官网 | | ISSN | 1530-4388 | | ISSN_e | 1558-2574 | | 学科分类 | SCI-电机及电子(ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC)
SCI-应用物理学(PHYSICS, APPLIED) | | 出版语种 | English | | 出版商 | IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC | | 出版社地址 | IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141 | | 投稿周期 | 传思论坛 | | PDF文档 | SCI期刊IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY(ISSN=1530-4388)历年影响因子.pdf |
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发表于 2002-5-5 20:59:01
